熱脹冷縮測試與冷熱沖擊試驗箱

冷熱沖擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設備，用于測試材料結(jié)構或復合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗。

東莞 冷熱沖擊試驗箱廠家

附屬功能

不同溫段沖擊：由多級蒸發(fā)器結(jié)構相應切斷，控制蒸發(fā)面積與制冷量膨脹閥匹配，使用制冷系統(tǒng)輸出合理減少加熱器中和的輸出量，達到恒定節(jié)能；另有獨立的換氣閥門，在排氣（常溫恢復）時動作引入環(huán)境空氣。

進氣口在環(huán)境溫度曝露時吸進外面的空氣。

排氣口從機械室和試驗區(qū)排出熱氣定時預定功能。

預先設定試驗開始時間，試驗箱自動開始起動并準備開始試驗。

曝露時間縮短功能。

試驗區(qū)的下風溫度達到曝露溫度后轉(zhuǎn)換到下一個曝露的功能。

前處理/后處理功能。

在循環(huán)試驗開始前或結(jié)束后，試樣被曝露在高溫環(huán)境中（熱處理）維持一定時間。

干燥運轉(zhuǎn)功能。

試驗結(jié)件下運轉(zhuǎn)一定的時間。

應用領域

高低溫沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機械的組件，都會用到，是各領域?qū)Ξa(chǎn)品測試的*的一項測試箱。

操作流程

一般來說，高低溫沖擊試驗箱操作分為五部走：預處理、初始檢測、試驗、恢復、后檢測。下面恒泰豐科和大家一起分享一下詳細流程內(nèi)容：

1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定。

2.初始檢測：將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗箱內(nèi)即可。

3.試驗：

1)試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱(室)內(nèi)溫度升到點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

4)重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。

4. 恢復：試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。

5.后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結(jié)果評定。